Шабунин, А. В.
    Оптимальное лечение острого панкреатита в зависимости от "модели" панкреонекроза [] / А. В. Шабунин, А. Ю. Лукин, Д. В. Шиков // Анналы хирургической гепатологии = Annals of Surgical Hepatology : научно-практический журнал. - 2013. - Том 18, N 3. - С. 70-78
Рубрики: ПАНКРЕАТИТ ОСТРЫЙ НЕКРОТИЗИРУЮЩИЙ
   ПОДЖЕЛУДОЧНАЯ ЖЕЛЕЗА

   ЗАБРЮШИННОЕ ПРОСТРАНСТВО

   ТОМОГРАФИЯ РЕНТГЕНОВСКАЯ КОМПЬЮТЕРНАЯ

Кл.слова (ненормированные):
МОДЕЛИ ПАНКРЕОНЕКРОЗА
Аннотация: Цель. Улучшение результатов лечения больных панкреонекрозом. Материал и методы. Проанализированы результаты лечения 489 больных панкреонекрозом за период с 2006 по 2012 г. В 77 наблюдениях проведен анализ результатов КТ, интраоперационных находок, результатов гистологического исследования биопсийного материала. Основные критерии, предоставляющие возможность моделирования и характеризующие панкреонекроз, - объем, лoкaлизaция некроза ПЖ, распространенность экстрапанкреатического патологического процесса. Результаты. Разработаны 4 клинико-морфологические модели панкреонекроза: модель 1 разработана для 177 больных, модель 2 - для 153, модель 3 - для 89, модель 4 - для 70. В зависимости от результатов моделирования применены различные способы лечения: пункционно-дренирующий, полостной, этапный. Специфические послеоперационные осложнения отмечены у 7 (6,5%), 3 (5,3%) и 15 (8,1%) больных, соответственно. Общее число осложнений составило 25 (7,1%). Наибольшее число осложнений отмечено при использовании этапного способа (модель 3, модель 4). Летальных исходов при модели 1 было 4 (2,3%), при модели 2 - 18 (11,8%), при модели 3 - 25 (28,1%), при модели 4 - 22 (31,4%). Всего отмечено 69 (14,1%) летальных исходов. Заключение. Тактика лечения больных панкреонекрозом определяется локализацией и распространенностью патологических изменений в забрюшинной клетчатке, зависит от объема, локализации некроза ПЖ. Моделирование панкреонекроза позволяет осуществить выбор оптимального способа лечения, уменьшить частоту осложнений и летальность


Доп.точки доступа:
Лукин, А. Ю.; Шиков, Д. В.
Экз-ры: