Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : Автор(ы) : Могілевський С. Ю., Жовтоштан М. Ю., Бушуєва О. В. Заглавие : Персистуючий синдром сухого ока після ексимерлазерної корекції міопії та віддалені функціональні результати Место публикации : Офтальмол. журнал. - Одеса, 2023. - N 1. - С. 19-26 (Шифр ОУ6/2023/1) MeSH-главная: МИОПИЯ -- MYOPIA ГЛАЗА СУХОГО СИНДРОМЫ -- DRY EYE SYNDROMES ЛАЗЕРНАЯ ТЕРАПИЯ -- LASER THERAPY Аннотация: Мета: дослідити вплив персистуючого синдрому сухого ока (ССО) після ексимерлазерної корекції (ЕЛК) міопії на віддалені функціональні результати. Виявлено 10,7% серед усіх пацієнтів із персистуючим ССО після ЕЛК міопії, у яких зафіксували рефракційний регрес у межах 0,5±0,1 D. Потовщення епітелію в центрі рогівки після ЕЛК у пацієнтів без ССО менше на 37,5%, ніж у пацієнтів із персистуючим ССО. Товщина епітелію рогівки менша при міопії на 6,4%, ніж за відсутності аметропій. Кератотопографічні дані виявляють нерегулярний астигматизм при ССО, який знижує якість зору, і пов'язані зі змінами товщини епітелію, рефракційним регресом після ЕЛК міопії. Профарбовування поверхні рогівки - доказ пошкодження епітелію рогівки при персистуючому ССО після ЕЛК міопії.Цель: исследовать влияние персистирующего синдрома сухого глаза (ССГ) после эксимерлазерной коррекции (ЭЛК) миопии на отдаленные функциональные результаты. Выявлено 10,7% среди всех пациентов с персистирующим ССГ после ЭЛК миопии, у которых зафиксировали рефракционный регресс в пределах 0,5±0,1 D. Утолщение эпителия в центре роговицы после ЭЛК у пациентов без ССГ меньше на 37,5%,чем у пациентов с персистирующим ССГ. Толщина эпителия роговицы меньше при миопии на 6,4%, чем при отсутствии аметропий. Кератотопографические данные обнаруживают нерегулярный астигматизм при ССГ, который снижает качество зрения, и связаны с изменениями толщины эпителия, рефракционным регрессом после ЭЛК миопии. Прокрашивание поверхности роговицы - доказательство повреждения эпителия роговицы при персистирующем ССГ после ЭЛК миопии. Доп.точки доступа: Жовтоштан, М. Ю.; Бушуєва, О. В.